Langzeitmessungen

Der Geophysikalische-Forschungs-Gruppe e.V. führt für die Gabriel-Tech GmbH zusätzlich zu den Einzelmessungen spezielle Reihenmessungen durch. Anhand dieser Langzeitmessung kann die Entstörungswirkung des getesteten Produkts im Zeitablauf dargestellt werden. Möglich wird diese Form der Labormessung durch das standardisierte Messverfahren der GFG, das eine von Messzeit und Messort unabhängige Untersuchung der Störung sowie der Entstörung erlaubt.

Genormter Messaufbau mit separater Feldverrechnung

Gesonderte potenzialfreie Messungen von elektrischen Wechselfeldern (NF) und von magnetischen Gleichfeldern (Magnetostatik) im 25er-Rasterfeld. Aus den jeweils gemessenen Werten der x-, y- und z-Achse werden die Raumwerte automatisch mittels Software als isotrope Ersatzwerte errechnet und dokumentiert. Alle Ersatzwerte beider Rasterfelder werden anschließend miteinander verrechnet und in einem 25er-Raster-Dual-Feld grafisch dargestellt.

Ein rechnerisch auf ‚NULL’ gesetztes Raster-Dual-Feld dient als geglättetes Norm-Feld. Die jeweilig errechneten Dual-Feld-Grafiken werden hierzu in Bezug gesetzt.

Beispiel: SmartPhone mit fest integriertem Akku

GFG-Reihenmessung Nr. 0492/2013 - 0504/2013

Mobiltelefon-Typ

SmartPhone mit entnehmbarem Akku*

IMEI-Serien Nr.

354897056855027

Messverfahren

EMI-Dualfeld im 25er Raster

Entstörungsprodukt

Gabriel-Chip GDM45/40

Wirkzeit vor Nachmessung 76 Stunden

Funk

Test-SIM-Karte

Empfehlung laut Hersteller

Wenn Sie Ihr SmartPhone am Körper tragen, stecken Sie Ihr SmartPhone immer in ein SmartPhone-Geräteholster, das mit einem integrierten Gürtelclip ausgestattet oder durch Research In Motion zugelassen ist. Wenn Sie beim Tragen des SmartPhone kein Holster verwenden, das mit einem integrierten Gürtelclip ausgestattet ist oder von RIM genehmigt wurde, halten Sie das SmartPhone mindestens 0,59 Zoll (15 mm) von Ihrem Körper entfernt, während das SmartPhone Daten überträgt.**

Abstand zum Messraster

0,5 cm

Eingeschaltete-Funktionen

W-Lan, Bluetooth, UMTS, GPRS, GSM, Betriebssystem

 

* Auf die Angabe des SmartPhone-Herstellers und -Typs wird hier aus Gründen der der Anonymität verzichtet. Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte persönlich an uns; nutzen Sie dazu bitte unten stehendes Kontaktformular.

** Angabe gemäß Hinweisen/Bedienungsanleitung des SmartPhone-Herstellers. Auf eine Angabe der Original-Quelle wird hier aus Gründen der Anonymität verzichtet. Für weitere Informationen zu den Empfehlungen der Hersteller wenden Sie sich bitte persönlich an uns; nutzen Sie dazu bitte unten stehendes Kontaktformular.

Vormessung (ohne Entstör-Produkt)

Grafische Darstellungen des Elektro-Magnetischen-Interferenz-Potenzials (EMI-Potenzial) relativ zum Normpotenzial in µW/m² (NF). Die Messungen finden in einem rechnerisch geglätteten Norm-Feld mit einer Test-SIM-Karte statt, wobei die verwendete Test-SIM-Karte stets im Maximalbereich sendet, um so vergleichbare HF-Emissionen zu erreichen.

Nachmessungen (mit Entstör-Produkt) nach unterschiedlicher Einwirkzeit

GFG-Reihenmessung Nr. 0492/2013 - 0504/2013 (13 Messgrafiken)

Grafische Darstellungen des Elektro-Magnetischen-Interferenz-Potenzials (EMI-Potenzial) relativ zum Normpotenzial in µW/m² (NF). Die Messungen finden in einem rechnerisch geglätteten Norm-Feld mit einer Test-SIM-Karte statt, wobei die verwendete Test-SIM-Karte stets im Maximalbereich sendet, um so vergleichbare HF-Emissionen zu erreichen.

Vormessung (ohne Entstör-Produkt)

Grafische Darstellungen des Elektro-Magnetischen-Interferenz-Potenzials (EMI-Potenzial) direkt an einem Norm-Kunstkopf relativ zum Normpotenzial in µW/m² (NF). Die Messungen finden in einem rechnerisch geglätteten Norm-Feld mit einer Test-SIM-Karte statt, wobei die verwendete Test-SIM-Karte stets im Maximalbereich sendet, um so vergleichbare HF-Emissionen zu erreichen.

Nachmessungen (mit Entstör-Produkt) nach unterschiedlicher Einwirkzeit

GFG-Reihenmessung Nr. 0492/2013 - 0504/2013 (13 Messgrafiken)

Grafische Darstellungen des Elektro-Magnetischen-Interferenz-Potenzials (EMI-Potenzial) direkt an einem Norm-Kunstkopf relativ zum Normpotenzial in µW/m² (NF). Die Messungen finden in einem rechnerisch geglätteten Norm-Feld mit einer Test-SIM-Karte statt, wobei die verwendete Test-SIM-Karte stets im Maximalbereich sendet, um so vergleichbare HF-Emissionen zu erreichen.

Messlabor der Geophysikalischen-Forschungs-Gruppe e.V.

Diese Reihenmessung wurde von der Geophysikalische-Forschungs-Gruppe e.V. für die Gabriel-Tech GmbH erstellt. Die Gabriel-Tech GmbH darf diese mit Erlaubnis nach eigenem Ermessen verwenden, verbreiten und vervielfältigen.

Quelle: Geophysikalische-Forschungs-Gruppe e.V.

Messprotokoll: 0492/2013 - 0504/2013

© Geophysikalische-Forschungs-Gruppe e.V

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